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Rivoluzione nel campo della misurazione

La soluzione per misurare in pochi secondi aumentando la qualità e diminuendo i costi

  • Ispezione e misurazione dei collegamenti chip dei semiconduttori
  • Misurazione di chip, pin e spine
  • Misurazione di scanalature, alberi scanalati, incavi, parti formate
  • Strumento di misura per interni per scanalature e intagli

Come misurare scanalature e perforazioni?

    • Misurazioni eseguite in pochi secondi
    • Risultati delle misurazioni omogenei a prescindere dall’operatore
    • Interfaccia intuitiva utilizzabile da chiunque
    • Registrazione automatica dei risultati delle misurazioni
    • Riscontro immediato su tendenze e variazioni
    • Rapporti di ispezione completi in pochi secondi

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Serie IM-7000 Sistema di misurazione dimensionale tramite immagini Catalogo

Serie IM-7000 Sistema di misurazione dimensionale tramite immagini Catalogo
  • [Tipo di file]PDF:6.11MB

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