Lettura ID telaio

Nel processo di produzione dei semiconduttori, la lettura accurata dell'ID del telaio marcato su un anello per wafer (telaio di dicing) è fondamentale per garantire la tracciabilità e un controllo qualità approfondito. Tuttavia, un problema comune era che i codici ID si graffiavano o si rovinavano quando gli anelli venivano impilati per lo stoccaggio e il trasporto, portando a frequenti errori di lettura con i lettori di codici tradizionali. Questi errori di lettura sono un problema serio che porta direttamente a fermi della linea di produzione e a una diminuzione della resa.

Il lettore di codici 1D/2D Serie SR-2000 di KEYENCE risolve questo problema. Dotato di un algoritmo di lettura proprietario all'avanguardia e di potenti funzioni di correzione delle immagini, è in grado di leggere istantaneamente e in modo stabile anche codici difficili in condizioni avverse come graffi, sporco e basso contrasto. Ciò riduce significativamente il rischio di fermi linea dovuti a errori di lettura e contribuisce notevolmente a migliorare la produttività.

Inoltre, la Serie SR-2000 supporta un campo visivo ultra-ampio e una lettura a lunga distanza, consentendogli di acquisire in modo affidabile gli ID anche in ambienti in cui la distanza e la posizione del target possono variare. Il suo elevato grado di libertà di installazione ne facilita l'adattamento alle apparecchiature esistenti, consentendo una gestione accurata dei singoli articoli e una maggiore tracciabilità nella produzione di semiconduttori.