Misurazione della distanza tra involucro e alloggiamento

Verificare la distanza tra involucro e alloggiamento. La Serie LJ-X è dotata di un CMOS a risoluzione ultra alta che acquisisce 3200 punti/contorno per consentire una misurazione ad alta precisione anche di piccole distanze.

Profilometro laser 2D/3D

Serie LJ-X8000

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