Completa Operatività e Servizi Potenziati
Cliccando qui è possibile conoscere le modalità con cui KEYENCE è in grado di supportare i propri clienti garantendo spedizioni rapide, test su campioni, dimostrazioni virtuali ed altro ancora.

Rilevamento della posizione di intagli su wafer

Position detection of wafer notches

Il sistema di visione rileva la posizione angolare di intagli sul wafer.

La risoluzione della telecamera da 5 Megapixel e gli algoritmi incorporati del tool Macchia trend edge consentono di rilevare in modo affidabile l’intaglio ed inoltre forniscono in uscita la posizione ed i dati dimensionali.

Vantaggio

Si utilizzava una telecamera da 2 Megapixel per rilevare la posizione dell'intaglio, ma la ripetibilità della telecamera non era costante. Implementando il sistema della Serie XG, una telecamera ad alta velocità da 5 Megapixel ed il nuovo tool Macchia trend edge, l'intaglio viene localizzato in maniera affidabile.

SCOPRI I DETTAGLI DEL PRODOTTO

  • Nel mercato dell’elaborazione delle immagini in costante evoluzione, vi è semplicemente un numero eccessivo di marche fra cui scegliere.

  • La serie XG offre la programmazione standard direttamente con il controllore o la programmazione avanzata mediante il software opzionale per PC Vision Editor.

  • Sistema ad alte prestazioni con guida in linea e strumenti semplificati per l’utilizzo da parte di chiunque.

  • La serie CV-5000 presenta il più alto numero di modelli di telecamere della sua categoria, consentendo di selezionare quella più adeguata per un'ampia gamma di applicazioni.

  • Offre una flessibilità all'avanguardia con una vasta scelta di telecamere, grazie al motore di elaborazione delle immagini con le prestazioni più elevate del settore.

Inizio pagina

KEYENCE ITALIA S.p.A. Via della Moscova 3, 20121 Milan, Italy
Telefono: +39-02-668-8220 Fax: +39-02-668-25099
e-mail: info@keyence.it
Opportunità di lavoro: KEYENCE Career Site